SJT 10787-1996 电子元器件详细规范 CL12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平E(可供认证用)
ID: |
DA62428B575A4DF3B745F21D35E5E781 |
文件大小(MB): |
0.57 |
页数: |
9 |
文件格式: |
|
日期: |
2024-7-28 |
购买: |
文本摘录(文本识别可能有误,但文件阅览显示及打印正常,pdf文件可进行文字搜索定位):
中华人民共和国国家标准,电子元器件详细规范,CL12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸,乙二醇酯膜介质直流固定电容器,评定水平E,UDC 621.319.4,GB 6350—86,降为 SJ/T 10787-96,Detail specification for electronic component,Fixed polyethylene-terephthalate film dielectric metal foil,D.C - capacitors type CL 12,Assessment level E,(可供认证用),本标准适用于CL 12型金属箔聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直施固定电容器,它是按照,GB 6347—86《电子设备用固定电容器,醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平,第1部分:总规范》和GB 6346-86,第11部分:空白详细规范:金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二,GB 2693—86,E》制定的,符合IEC 384-1(1982)《电子设备用固定电容器,QC 300000,《电子设备用固定电容器第11部分:分规范:金属箔式聚乙,烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器》的要求,中国电子元器件质量认证委员会标准化机构是中国电子技术标准化研究所,国家标准局1 986-05- 02发布1 987- 03-01 实施,GB 6350—86,国家标准局GB 6350—86,电子元器件质量评定按:,GB 2693—86,GB 6347—86,2 £と5,CL 12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜,介质直流固定电容器,该类电容器采用聚酯膜作介质和以铝箔作电极,露箔式卷绕而成。外部包封绝缘材料,单向引出,能承受较大电流,适用于电子设备的直流和脉动,电路中,评定水平:E,性能等级:n级,按本详细规范鉴定合格的元件的有效资料在合格产品ー览表中给岀,GB 6350—86,1 一般数据,1.I推荐的安装方法,应用正常方法安装(夹具固定法)见GB 6346—86分规范第1.4: 2条,1.2尺寸见表1,2,GB 6350—86,续表1,额定电压,标称,电容量,得,尺寸,mm,’タト形,唄X,0.022 12*5,0.027,0.033,14,0.039,0<047,0.056,14.5,0.06,q,0.082 17,0.1,0.12 17-5,0.15,0.1,19,0.22,0.27,0.33,23,0.39,0.47,丒为参考尺寸O,63 V. 100 V,H max T / max P*,11 7,.,11.5 5,12 7.5,13.5,14 8,I,14.5 8.5,7.5,15.5 9,i,16,10.5 ,10,17,18.5,11.5,-,亠 ?yx 1,10,19.5 11 12.5,21 12.5,9,10.5,J±0<05,0.6,最大重量,g,1.2,1.4.,1.8,13.5,2.4,0.8,14.5 3.2,4.8,19 ------ :-,7,8,3,GB 6350—86,1.3 额定值和特性,电容量范围(见表1),标称电容量偏差分为:土 5 %和±10%,额定电压(见表1),气候类别:55/085/21,额定温度:+85C,损耗角正切く 0.008,绝缘电阻:Crく0.33卩F; >30 000MQ,CR>0.33p,F J >10 000s,1.4 有关文件,GB 2693—86《电子设备用固定电容器 第1部分:总规范》〇,GB 6346—86《电子设备用固定电容器 第11部分:丒分规范:金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇,酯薄膜直流固定电容器》,1.5 标志,电容器和包装件的标志应符合GB 6346—86第1,6条的要求,1.6 订货资料,订购本规范电容器的订货单,应用一般文字或代码形式列出下列最少内容:,a.标称电容量;,b.标称电容量偏差,c.额定直流电压,d.详细规范的编号及版本标志和种类标志,1.7 放行批证明记录,如要求,由双方协商,2检验要求,2.1 程序,2.1.1 对于鉴定批准,其程序应符合GB 6346—86分规范第3.4条,2.1.2 对于质量一致性检验,其试验ー览表(表2)包括抽样、周期、严酷度和要求。检验批的挥,成包括在分规范第3.5.1条中。 ‘,表2,注,① 试验项目和性能要求的条款号引自GB 6346-86分规范和本规范的第1章,② 检验水平和各AQL选自IEC 410《计数检査抽样方案和程序》,③本表中:P 期(月数),n ----样本大小,c ——合格判定数(允许不合格品数),D——破坏性的,ND——非破坏性的,IL——检验水平,AQL——合格质量水平,IEC 410,4,GB 6350—86,续表2,条款号和试验项目,(见,D或 试验条件,ND (见注①),ILAQL,(见注②),性能要求,?(见注①),A组检験(逐批),A1分组,4.1外观检査,4.1尺寸(=规检验),A2分组,4.2.11,4:2丒2,4.2.3,4.2.4,耐电压,电容,损耗角正切,绝缘电阻,B组检验(逐批),B1分组,4.5 可焊性,条款号和试验项目,(见,C组检验(周期),C1分组,C1分组样本中的部分样品,4.1 尺寸(详细的),4.3.1初始测量,4.3 引出端强度,4.4 耐焊接热,4.4.2最后测丒,ND,ND,2ム,D,D或,ND,D,S-4 2.5%,1.0%,不老化,方法:槽焊法,Ta方法1,试验条件,(见注①),电容量,损耗角正历,对于CrVIONF:在1kHz时,外观检査,方法工槽焊法Tb,方法1A,外观检査,电容……
……